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 | A-30D正置金相顯微鏡A-30D正置金相顯微鏡，觀察面向上，適宜于尋找特定或廣域范圍內(nèi)表面目標(biāo)的觀察研究和分析。廣泛應(yīng)用于電子行業(yè)IT、PCB和微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等，及材料金相組織結(jié)構(gòu)的檢測、研究和分析等工作。廣泛應(yīng)用在工廠、實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)及科研領(lǐng)域。 |
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 | A-30MR正置金相顯微鏡A-30MR金相顯微鏡能提供優(yōu)越的圖像質(zhì)量和穩(wěn)固可靠的機(jī)械結(jié)構(gòu)；操作簡便，附件齊全，廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域。 |
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 | A-40MRT透反射正置金相顯微鏡A-40MRT以優(yōu)異的成像性能、舒適的操作體驗(yàn)，為客戶提供高性價(jià)比的金相分析及工業(yè)檢測解決方案。 |
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 | A-50DX高級正置金相顯微鏡A-50DX系列專業(yè)應(yīng)用于工業(yè)檢測及金相分析領(lǐng)域，靈活的系統(tǒng)組合、卓越的成像性能、穩(wěn)定的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，各操作機(jī)構(gòu)根據(jù)人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，最大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設(shè)計(jì)，可對系統(tǒng)功能進(jìn)行自由組合。集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，進(jìn)行功能選擇。 |
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 | A-60D 明、暗場、偏光正置金相顯微鏡A-60D 明、暗場、偏光正置金相顯微鏡系研究級金相顯微鏡，涵蓋明場、暗場、偏光等觀察方式。適用于工礦企業(yè)、高等院校及科研等機(jī)構(gòu)作材料內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)分析和材料處理后表面結(jié)構(gòu)的研究分析等工作。 |
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 | A-60DX高級正置金相顯微鏡A-60DX系列專業(yè)應(yīng)用于工業(yè)檢測及金相分析領(lǐng)域,靈活的系統(tǒng)組合、卓越的成像性能、穩(wěn)定的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)， 各操作機(jī)構(gòu)根據(jù)人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，最大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設(shè)計(jì)，可對系統(tǒng)功能進(jìn)行自由組合。集成了明場、暗場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，進(jìn)行功能選擇。 |
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